分段检测极片厚度
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分段检测极片厚度

分段检测极片厚度

点光谱HCC系列,最高分辨率 0.2 纳米 ;同轴白光原理,可测量任何材质(玻璃、液体、镜面、橡胶、薄膜、各种金属等);最高 33KHz 采样频率;最多可以一个控制器拖八个镜头