400-9199-520
EN
EN
ZH
产品
光电传感器
背景抑制型光电PU-MQ-B系列
通用对射/反射板式光电PU-MQ系列
TOF光电PU-MQ-TF系列
小型光电PU-MQX系列
超小型激光对射光电PU-LS系列
超小型光电传感器PU-MQ/LQ系列
超薄型光电 PU-LQ系列
小槽型光电PU-45/25/67系列
槽型光电PU-G系列
窗口型光电PU-HQ25
光纤传感器
超高速光纤放大器PF-A31
经济型光纤PF-A系列
模拟量光纤放大器PF-A31AV
可扩展型光纤放大器PF-A31M/PF-A31S
光纤透镜
光纤选型
颜色传感器
远距离白光颜色传感器CS-W50ON
多通道颜色传感器CS-A21N
数显色标传感器CS-S21
标签检测MK-80系列
液位传感器
液位(面)检测WT-MQ系列
纠偏传感器
激光纠偏传感器HRT-L系列
高精度激光检测单元HTCP系列
单双张检测传感器
超声波单双张检测UDS系列
接近传感器
常规型接近-电感式
超小型接近-电感式
扁平式接近-电感式
模拟量接近-电感式
耐腐蚀接近-电感式
耐高温接近-电感式
宽温高防护型-电感式
耐高压接近-电感式
防焊渣接近-电感式
仅感应铁/铝（铜）接近-电感式
全金属一体式坚固型接近传感器-电感式
圆柱形接近-电容式
耐腐蚀性接近-电容式
扁平式接近-电容式
扁平接近PHM系列-磁性
圆柱形接近PHM系列-磁性
过程控制传感器
高速红外测温仪系列IRT系列
压力传感器HMP110
测量传感器
点光谱共焦位移传感器HCC系列
激光位移PL系列
区域激光HRD系列
精密开关CDT/CDT12系列
超声波测距USM系列
接触式位移CDT-L系列
条码识别传感器
固定式条码读取器
通用型手持条码枪
超景深显微镜
白光干涉仪
AI图像识别
AI图像识别传感器HBC-V系列
RFID选型表
工业级低频读写器
工业级高频读写器
工业级超高频读写器
半导体业专用RFID读写器
AGV专用RFID传感器
工业网关控制器
手持机终端
选配件(电缆、接头)
通讯模块CTW-80ATE
模拟量转数字量通讯模块CTW-80ATE
无尘拖链
无尘拖链（定制系列））
无尘拖链（标准系列）C-28/C-42系列
检测/静电消除
低压高频离子风棒
静电传感器
解决方案
新能源
半导体
3C电子
物流
食品/药品
电子元件
汽车
下载中心
产品资料
软件下载
3D图纸
产品说明书
服务中心
申请试样
资料索取
在线/上门选型
新闻中心
公司新闻
技术分享
展会排期
关于我们
人才招聘
首页
产品
光电传感器
背景抑制型光电PU-MQ-B系列
通用对射/反射板式光电PU-MQ系列
TOF光电PU-MQ-TF系列
小型光电PU-MQX系列
超小型激光对射光电PU-LS系列
超小型光电传感器PU-MQ/LQ系列
超薄型光电 PU-LQ系列
小槽型光电PU-45/25/67系列
槽型光电PU-G系列
窗口型光电PU-HQ25
光纤传感器
超高速光纤放大器PF-A31
经济型光纤PF-A系列
模拟量光纤放大器PF-A31AV
可扩展型光纤放大器PF-A31M/PF-A31S
光纤透镜
光纤选型
颜色传感器
远距离白光颜色传感器CS-W50ON
多通道颜色传感器CS-A21N
数显色标传感器CS-S21
标签检测MK-80系列
液位传感器
液位(面)检测WT-MQ系列
纠偏传感器
激光纠偏传感器HRT-L系列
高精度激光检测单元HTCP系列
单双张检测传感器
超声波单双张检测UDS系列
接近传感器
常规型接近-电感式
超小型接近-电感式
扁平式接近-电感式
模拟量接近-电感式
耐腐蚀接近-电感式
耐高温接近-电感式
宽温高防护型-电感式
耐高压接近-电感式
防焊渣接近-电感式
仅感应铁/铝（铜）接近-电感式
全金属一体式坚固型接近传感器-电感式
圆柱形接近-电容式
耐腐蚀性接近-电容式
扁平式接近-电容式
扁平接近PHM系列-磁性
圆柱形接近PHM系列-磁性
过程控制传感器
高速红外测温仪系列IRT系列
压力传感器HMP110
测量传感器
点光谱共焦位移传感器HCC系列
激光位移PL系列
区域激光HRD系列
精密开关CDT/CDT12系列
超声波测距USM系列
接触式位移CDT-L系列
条码识别传感器
固定式条码读取器
通用型手持条码枪
超景深显微镜
白光干涉仪
AI图像识别
AI图像识别传感器HBC-V系列
RFID选型表
工业级低频读写器
工业级高频读写器
工业级超高频读写器
半导体业专用RFID读写器
AGV专用RFID传感器
工业网关控制器
手持机终端
选配件(电缆、接头)
通讯模块CTW-80ATE
模拟量转数字量通讯模块CTW-80ATE
无尘拖链
无尘拖链（定制系列））
无尘拖链（标准系列）C-28/C-42系列
检测/静电消除
低压高频离子风棒
静电传感器
解决方案
新能源
半导体
3C电子
物流
食品/药品
电子元件
汽车
下载中心
产品资料
软件下载
3D图纸
产品说明书
服务中心
申请试样
资料索取
在线/上门选型
新闻中心
公司新闻
技术分享
展会排期
关于我们
人才招聘
400-9199-520
晶圆烘烤后温度检测
日期：2026-10-27
晶圆烘烤后温度检测
在线式红外测温仪 IRT-M18A4-20500，非接触检测各种材质、尺寸、产品实时温度；温度检测范围广 −20℃~500℃ ；多种尺寸规格、满足高温环境使用
上一篇：
电路板镭雕码读取
下一篇：
芯片正反面检测
相关解决方案
检测晶圆打薄的厚度
检测包装盒内卡针有无
分段检测极片厚度
400-9199-520
400-9199-520
400-9199-520
