CSEAC 2026 无锡半导体展|安优测半导体精密检测方案
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CSEAC 2026 无锡收官|不负相遇,安优测继续前行!


8月31日至9月2日,CSEAC 2026在无锡太湖国际博览中心举行。作为聚焦半导体设备、核心部件及相关技术应用的专业展会,现场汇聚了众多行业企业及专业观众,共同交流半导体精密制造与检测领域的新技术、新应用。

安优测携多款工业传感与精密测量检测产品亮相B4-1176展位,与现场客户、行业伙伴围绕实际检测需求展开深入交流。


安优测丨展台直击


本次展会,安优测重点展示了
点光谱共焦、3D线光谱共焦传感器、超景深工业显微镜、光干涉仪、AI智能读码器、红外测温及多款工业传感产品。

围绕半导体及精密制造中的高度、厚度、轮廓、表面形貌、缺陷观察及自动识别等检测需求,现场通过产品展示、应用讲解及实际工况交流,让更多观众进一步了解安优测在精密测量与工业检测领域的产品与应用方案。

 


现场交流


展会期间,安优测展位迎来了众多客户与行业伙伴驻足咨询。
针对不同客户提出的检测对象、精度要求、应用环境及实际工艺问题,现场团队结合产品特点和应用案例进行交流,并针对具体需求探讨相应的检测思路与解决方案。

每一次面对面的交流,不仅是产品与技术的分享,也让我们进一步了解了不同细分行业中的实际检测需求。

 

   

展会落幕,交流不止


三天展期圆满结束,感谢每一位莅临安优测展位交流的新老客户与合作伙伴,也感谢大家对安优测产品与技术的关注与认可。

展会落幕,服务与交流仍在继续。

未来,安优测将继续聚焦工业传感与精密测量检测领域,不断完善产品与应用方案,为半导体、PCB、3C电子、新能源及精密制造等行业提供更加高效、稳定的检测选择。

CSEAC 2026无锡站圆满收官,感谢相遇,期待下一站再见!